上海保圣實業發展有限公司供應(ying)TA.XTC 型號質構儀,質構儀精度高、位移精準(zhun),實驗方(fang)法豐(feng)富。測試參數通過(guo)軟件輸入,軟件帶有(you)控制鍵(jian),無需(xu)手接觸儀器,只(zhi)需(xu)點擊鼠標可以進(jin)行儀器各種(zhong)操作。數據(ju)分析時不需另外(wai)撰寫分析程序(xu),用戶可(ke)直(zhi)接勾(gou)選(xuan)所(suo)要的參數,軟件即可(ke)自動計算結果。上海保圣質(zhi)(zhi)構(gou)儀附(fu)帶(dai)探(tan)頭可以進口儀器通用,以下介(jie)紹(shao)米制品質(zhi)(zhi)構(gou)測試所(suo)需探(tan)頭。
名稱 | 型(xing)號(hao) | 內含部件和應用說明 |
壓盤探(tan)頭 |
TA/100 |
通用壓(ya)(ya)盤探頭:以(yi)下壓(ya)(ya)方式(shi)可(ke)(ke)測樣品(pin)整(zheng)體硬度(strength),通過按壓(ya)(ya)可(ke)(ke)以(yi)測量米飯、年糕等米制品(pin)的硬度、彈性(xing)、咀嚼性(xing)、黏(nian)性(xing)等特性(xing)。 |
柱形探(tan)頭 |
TA/ 36R
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可(ke)用于TPA測試及單次下壓模式,通(tong)過按壓可以(yi)測量(liang)米(mi)(mi)飯、米(mi)(mi)糕、年糕等米(mi)(mi)制品的硬度、彈性(xing)、咀嚼性(xing)、黏性(xing)等特(te)性(xing)。測量(liang)爆米(mi)(mi)花的酥(su)脆度。 |
針形探頭 |
TA/2N
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針刺型探頭(tou),通過穿刺深(shen)入(ru)樣品內部測試質地剖面。該探頭(tou)可(ke)以用來(lai)測試米(mi)通、米(mi)餅(bing)、爆(bao)米(mi)花等產品的(de)破裂強度(du),從而分析餅(bing)干的(de)硬(ying)度(du)、脆性(xing)、咀嚼性(xing)等特性(xing)。 |
球(qiu)形探頭(tou) |
TA/0.5S |
直徑從0.25 - 1英寸(cun)的探頭。用于對米(mi)糕、年糕、米(mi)飯等米(mi)制(zhi)品(pin),可(ke)測樣品(pin)的硬度、彈性(xing)、粘性(xing)、咀嚼性(xing)等指(zhi)標。 |
輕型切刀 |
TA/LKB |
該探頭以壓(ya)力(li)的(de)(de)方式來(lai)測量樣品(pin)的(de)(de)剪切(qie)硬度(du)(du)和可(ke)剪切(qie)性,.可(ke)測量米線、米粉(fen)等的(de)(de)切(qie)斷強度(du)(du)和硬度(du)(du),反映(ying)樣品(pin)內(nei)部的(de)(de)組成(cheng)成(cheng)分(fen)和添加劑對(dui)(dui)樣品(pin)的(de)(de)影響(xiang)。在米線、米粉(fen)中主要測試氧化(hua)劑、鹽、乳化(hua)劑或酶等的(de)(de)添加對(dui)(dui)面筋強度(du)(du)的(de)(de)影響(xiang)。AACC(16-50)標準,面條硬度(du)(du)測試。 |
拉(la)伸(shen)測試探頭(tou) |
TA/SPR |
該抗拉(la)強(qiang)度試(shi)(shi)驗臺(tai),可測米線、米粉(fen)的斷(duan)裂強(qiang)度和拉(la)伸(shen)彈(dan)性,米線兩端嵌入(ru)上下兩輥子(zi)的中縫(feng)并(bing)旋(xuan)轉(zhuan)2-3周(zhou)以防面條滑動。輥子(zi)的設計確(que)保了(le)測試(shi)(shi)時樣品不致裂開(kai)、剪(jian)斷(duan)、,并(bing)使拉(la)斷(duan)點只(zhi)發(fa)生在(zai)中間的拉(la)伸(shen)測試(shi)(shi)部分。 |
鉗口探頭(tou) |
TA/VB |
該裝置(zhi)可進(jin)行模擬人(ren)的牙齒咬斷食(shi)物(wu)的測試,樣(yang)品放在下(xia)鉗口(kou)內(nei),咀嚼動作由上鉗口(kou)撕裂食(shi)物(wu)的下(xia)壓動作測試;適用(yong)于米通的剪(jian)切,并可對生熟食(shi)品的纖維(wei)度(du)進(jin)行測試。 |
脆(cui)性斷(duan)裂(lie)支(zhi)撐臺 |
TA/CFS
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通過探頭下壓可用于測試米制小食品的酥脆性 |